Diffraction des rayons X

Technique de caractérisation du solide, non destructive permettant l’identification et la quantification relative de phases cristallines.

Diffraction X	Siemens D5000 et Bruker Axs D8
Cadre d’utilisation	Appareil de l’équipe minéralogie accessible
Eléments analysés	Caractérisation minéralogique ou structurale
Caractéristiques techniques	Données techniques :	Goniomètre équipé de porte échantillon tournant, capillaire, chambre à environnement contrôlé Tubes Cobalt, Cuivre ou Molybdène Goniomètres Tetha-tetha précision 0,002 degré Détecteurs solXE et solX résolus en énergie
	Types d’analyses possibles :	Caracterisation, analyse quantitative par affinement rietveld, étude et modelisation de dépot orienté (Argiles)
Responsables de l’outil Equipe associé	Responsable scientifique : – Dr. Bruno Lanson 04 76 63 51 95 Responsable technique : – Rachel Martin 04 76 51 40 78